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> 技术详情
在玻璃基片上低温沉积InN薄膜的方法
编号:S000025828
刷新日期:
有效日期至:
2021-01-04
浏览:
2307
次
对接邀请:
0
次
意向价格:
面议
所在区域:
中国 - 辽宁
技术领域:
信息通信 - 电子信息及通讯
转让类型:
合作研发
专利类型:
发明专利
技术成熟度:
可以量产
供应描述
本发明属于新型光电材料沉积制备技术领域,提供一种可制备电学性能良好的
InN
光电薄膜的在玻璃基片上低温沉积
InN
薄膜的方法。本发明包括以下步骤:
1
)将玻璃基片依次用丙酮、乙醇、去离子水超声波清洗后,用氮气吹干送入反应室;
2
)采用
ECR-PEMOCVD
系统,将反应室抽真空,玻璃基片加热至
20
~
400
℃,再向反应室内通入氢气携带的三甲基铟、氮气,三甲基铟与氮气流量比为(
2
~
4
):(
100
~
200
),控制气体总压强为
0.8
~
2.0Pa
,电子回旋共振反应
30min
~
3h,
得到在玻璃基片的
InN
光电薄膜。
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机构地址:
No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia
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认证方式:
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