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在玻璃基片上低温沉积InN薄膜的方法
编号:S000025828 刷新日期: 有效日期至:2021-01-04 浏览:2307 对接邀请:0
意向价格: 面议
所在区域:中国 - 辽宁 技术领域:信息通信 - 电子信息及通讯
转让类型:合作研发
专利类型:发明专利 技术成熟度:可以量产
供应描述
本发明属于新型光电材料沉积制备技术领域,提供一种可制备电学性能良好的InN光电薄膜的在玻璃基片上低温沉积InN薄膜的方法。本发明包括以下步骤:1)将玻璃基片依次用丙酮、乙醇、去离子水超声波清洗后,用氮气吹干送入反应室;2)采用ECR-PEMOCVD系统,将反应室抽真空,玻璃基片加热至20400℃,再向反应室内通入氢气携带的三甲基铟、氮气,三甲基铟与氮气流量比为(24):(100200),控制气体总压强为0.82.0Pa,电子回旋共振反应30min3h,得到在玻璃基片的InN光电薄膜。
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机构地址:No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia 查看地图
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