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> 技术详情
半导体器件中负载电流的过零检测
编号:S000018665
刷新日期:
有效日期至:
2020-10-07
浏览:
2395
次
对接邀请:
0
次
意向价格:
面议
所在区域:
中国 -
技术领域:
智能制造 - 装备制造业
转让类型:
技术转让
专利类型:
发明专利
技术成熟度:
可以量产
供应描述
本发明涉及半导体器件中负载电流的过零检测,公开了一种电路布置,包括具有栅电极和在发射极与集电极之间的电流路径的反向导通晶体管。该晶体管被构造成允许在正向上和反向上传导的负载电流通过负载电流路径并且被构造成通过在栅电极的相应信号被激活或被禁用。该电路布置还包括栅极控制单元和监控单元。栅极控制单元被连接至栅电极并且被构造成禁用该晶体管或者防止当晶体管处于反向导通状态时经由栅电极的晶体管的激活。监控单元被构造成检测,在晶体管通过栅极控制单元被禁用或防止激活的同时,在该负载电流过零时产生的,反向导通晶体管的集电极-发射极电压的突然上升。
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机构地址:
No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia
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认证方式:
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