一种用于检测在行进的基片(2)(亦即在沉积在薄片或卷材材料上的基片)上的图案的装置(1)，所述基片是沿着一行进方向(20)行进的金属化箔片。所述装置在一壳体(3)内包括：从一第一光源(4)发出的一第一入射光束(l₁)，从一第二光源(5)发出的一第二入射光束(l₂)，一光学测量系统(10)，分别传送由基片(2)反射的反射光束(R1，R2)的一光敏传感器(13)，以及连接至一通讯口(16)的一电子装置(14)。光学测量系统(10)是焦阑的，并且第一入射光束(l₁)横穿一焦阑的照明系统(15)，第二入射光束(l₂)横穿一倾斜的照明系统(25)。