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一种适用于VLSI片上时钟系统的偏斜检测和去偏斜调节电路
编号:S000025597 刷新日期: 有效日期至:2021-01-03 浏览:2309 对接邀请:0
意向价格: 面议
所在区域:中国 - 技术领域:信息通信 - 电子信息及通讯
转让类型:科技服务
专利类型:发明专利 技术成熟度:可以量产
供应描述
本发明属于超大规模集成电路的片上时钟技术领域,具体为一种适用于VLSI片上时钟系统的偏斜检测和去偏斜调节电路。本发明由早相位检测模块、偏移量检测模块、转码电路、可配置延时电路和两个二选一的数据选择器组成;早相位检测模块用来检测两路时钟相位的先后性,输出信号送给两个数据选择器,两路时钟经过偏移量检测模块检测出实际偏移量,再经转码电路转码后控制可配置延时电路,将相位更早的时钟往后推迟偏移量个相位,以确保输出为边沿对齐、偏移去除的两相时钟。本发明实现了基于标准单元库的半定制设计电路,具有逻辑简单、精度可控、灵活性好等优点,与现行通用的基于硬件描述语言(HDL)输入的数字集成电路设计流程兼容。
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机构地址:No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia 查看地图
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