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基于调制光源及正负衍射级分开探测结构的波前检测装置
编号:S000025540 刷新日期: 有效日期至:2020-10-16 浏览:2413 对接邀请:0
意向价格: 面议
所在区域:中国 - 江苏 技术领域:信息通信 - 电子信息及通讯
转让类型:合作研发
专利类型:发明专利 技术成熟度:可以量产
供应描述
本发明公开了一种基于调制光源及正负衍射级分开探测结构的波前检测装置,包括光源模块、透镜、正负衍射级分离光路、接收及数据处理模块;光源模块包括氦-氖激光光源、针孔、光纤自准直器、一维周期振幅光栅和圆形窗口;正负衍射级分离光路中,在一维周期相位光栅下面放置分离反射镜;波前经过一维周期相位光栅产生的正负衍射级光线经过分离反射镜和四象限偏振片分别进入正负衍射级图像传感器;图像传感器通过数据线将这些数据送到电脑中,再经过软件分析,可获得任意正负衍射级之间的干涉条纹,从而得到波前的相位分布。本发明所提出的检测方法和检测系统操作简单,对检测环境和待检测光学系统要求低,且检测精度过度不依赖于干涉图样的清晰度。
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机构地址:No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia 查看地图
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