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> 技术详情
一种轮廓的显微方法
编号:S000025400
刷新日期:
有效日期至:
2020-12-09
浏览:
3236
次
对接邀请:
0
次
意向价格:
面议
所在区域:
中国 - 浙江
技术领域:
信息通信 - 电子信息及通讯
转让类型:
科技服务
专利类型:
发明专利
技术成熟度:
可以量产
供应描述
本发明公开了一种轮廓的显微方法和装置。装置包括激光器、单模光纤、第一准直透镜、第一偏振片、第一偏振分束器、四分之一波片、第二透镜、第三透镜、二分之一波片、第二偏振分束器、第一探测光纤、第二探测光纤、差分探测器、主控计算机、纳米平移台和用于放置待测样品的样品平台。本发明通过横向差分获得物体的轮廓像,有效提高系统的横向分辨率。本发明结构简单,横向分辨率提高显著,可以达到200nm以下,可用于光学显微领域以及纳米级别的高精度检测、测量和制造等领域。
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