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MOS管及其形成方法
编号:S000020706 刷新日期: 有效日期至:2020-10-24 浏览:2306 对接邀请:0
意向价格: 面议
所在区域:中国 - 技术领域:智能制造 - 装备制造业
转让类型:科技服务
专利类型:发明专利 技术成熟度:可以量产
供应描述
一种MOS管及其形成方法,其中,所述MOS管的形成方法包括:提供半导体衬底;形成覆盖半导体衬底的电压控制层和覆盖电压控制层的外延本征层;形成位于外延本征层表面的第一栅极结构和位于第一栅极结构两侧的伪侧墙;以第一栅极结构和伪侧墙为掩膜,向所述外延本征层内掺杂形成源/漏区;待形成源/漏区后,形成与第一栅极结构和伪侧墙表面齐平的绝缘层;形成绝缘层后,去除伪侧墙,形成暴露出外延本征层表面的第一开口;通过所述第一开口向外延本征层内掺杂离子,形成防扩散层;在第一开口内形成侧墙,所述侧墙表面与绝缘层表面齐平。形成的MOS管的阈值电压低,消除了热载流子效应,MOS管的性能稳定。
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机构地址:No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia 查看地图
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