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制备SOI上双层隔离混合晶向后栅型反型模式SiNWFET的方法
编号:S000019680 刷新日期: 有效日期至:2020-11-13 浏览:2350 对接邀请:0
意向价格: 面议
所在区域:中国 - 技术领域:智能制造 - 装备制造业
转让类型:技术转让
专利类型:发明专利 技术成熟度:可以量产
供应描述
本发明提供一种制备SOI上双层隔离混合晶向后栅型反型模式SiNWFET的方法。本发明采用第一半导体纳米线MOSFET为NMOSFET,第二半导体纳米线MOSFET为PMOSFET的结构设计,有效减小PMOSFET的接触孔电阻以提高PMOSFET性能。
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机构地址:No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia 查看地图
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