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> 技术详情
张应变半导体光子发射和检测装置和集成的光子学系统
编号:S000019545
刷新日期:
有效日期至:
2020-12-30
浏览:
2255
次
对接邀请:
0
次
意向价格:
面议
所在区域:
中国 -
技术领域:
智能制造 - 装备制造业
转让类型:
技术转让
专利类型:
发明专利
技术成熟度:
可以量产
供应描述
提供了张应变锗,其被充分张应变,以提供近乎直接带隙材料或完全直接带隙材料。与锗区域接触的承受压应力或拉伸应力的应力源材料在锗区域中引起单轴或双轴张应变。应力源材料可以包括氮化硅或硅锗。所产生的应变锗结构可被用于发射或检测光子,包括例如在谐振腔中产生光子以提供出激光器。
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No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia
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