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> 技术详情
一种用于制造半导体器件的方法
编号:S000018537
刷新日期:
有效日期至:
2020-12-23
浏览:
2953
次
对接邀请:
0
次
意向价格:
面议
所在区域:
中国 -
技术领域:
智能制造 - 装备制造业
转让类型:
合作研发
专利类型:
发明专利
技术成熟度:
可以量产
供应描述
提供一种用于制造半导体器件的方法。该方法包括提供具有水平表面(15)的半导体本体(40)。在水平表面(15)上形成外延硬掩膜。通过相对于外延硬掩膜在水平表面(15)上选择性外延形成外延区域(2a,3),使得外延区域(2a,3)适应于外延硬掩膜。在半导体本体(40)中形成垂直沟槽(18,19)。在垂直沟槽(18,19)的下部形成绝缘场板(12)且在绝缘场板(12)上方形成绝缘栅电极(11)。而且,提供一种用于形成场效应半导体器件的方法。
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No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia
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认证方式:
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