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半导体结构的形成方法、晶体管的形成方法
编号:S000018203 刷新日期: 有效日期至:2020-10-28 浏览:2376 对接邀请:0
意向价格: 面议
所在区域:中国 - 技术领域:智能制造 - 装备制造业
转让类型:技术转让
专利类型:发明专利 技术成熟度:可以量产
供应描述
半导体结构的形成方法、晶体管的形成方法,其中所述半导体结构的形成方法包括:提供半导体衬底,所述半导体衬底具有器件区,在所述半导体衬底表面形成硬掩膜层;去除所述器件区的部分硬掩膜层,并以剩余的硬掩膜层为掩膜,在所述半导体衬底内形成若干开口;采用晶向各向异性湿法刻蚀所述开口侧壁,形成悬空的纳米线;去除剩余的硬掩膜层,并对所述纳米线进行热退火处理,使所述纳米线的横截面变为圆形。所述半导体结构的形成方法能够减少成本,且使所述半导体结构易于与基于硅基底的半导体器件集成。
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机构地址:No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia 查看地图
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