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> 技术详情
一种折射率传感器及其探测方法
编号:S000025918
刷新日期:
有效日期至:
2020-10-07
浏览:
2381
次
对接邀请:
0
次
意向价格:
面议
所在区域:
中国 -
技术领域:
信息通信 - 电子信息及通讯
转让类型:
技术转让
专利类型:
发明专利
技术成熟度:
可以量产
供应描述
本发明公开了一种折射率传感器及其探测方法。本发明的折射率传感器包括:激发装置和测量装置;激发装置包括单色光源、聚焦器件和传感器芯片;测量装置由漏辐射显微镜系统组成,包括油浸物镜、成像透镜和CCD相机;单色光源经聚焦器件入射到传感器芯片上激发起表面等离激元SP,由油浸物镜收集SP的漏辐射光,经成像透镜后,和另一束参考光同时入射到CCD相机上并发生干涉,CCD相机记录干涉条纹的信息,根据干涉条纹周期来监测金属薄膜上表面待测样品的折射率。本发明的优点在于只需单波长光源,结构简单、成本低;测量对于入射光源的强度波动和探测器的噪声并不敏感;提高了数据测量的准确性;可以实现传感器的微型化和多通道探测。
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机构地址:
No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia
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认证方式:
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