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一种电路测试控制方法及装置
编号:S000025813 刷新日期: 有效日期至:2020-12-08 浏览:2532 对接邀请:0
意向价格: 面议
所在区域:中国 - 技术领域:信息通信 - 电子信息及通讯
转让类型:科技服务
专利类型:发明专利 技术成熟度:可以量产
供应描述
本发明实施例公开了一种电路测试控制方法及装置,包括,在进入测试模式后,接收第一测试口令,以及与所述第一测试口令对应的第一测试模式信号,将所述第一测试口令与预设口令进行匹配,如果匹配成功,将所述第一测试模式信号输入片上系统SOC芯片,以便于对所述SOC芯片上所述第一测试模式信号对应的第一测试项进行测试。相应的,本发明实施例还公开了一种电路测试控制装置。本发明实施例所提供的电路测试控制方法及装置,利用测试口令,控制测试模式信号进入SOC芯片,增加了启动SOC芯片测试项的条件,提高了SOC芯片的安全性,同时,通过输入相应的测试口令和测试模式信号,可以直接实现测试项的转换,使得测试过程更简洁。
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机构地址:No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia 查看地图
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