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> 技术详情
一种电路测试控制方法及装置
编号:S000025813
刷新日期:
有效日期至:
2020-12-08
浏览:
2532
次
对接邀请:
0
次
意向价格:
面议
所在区域:
中国 -
技术领域:
信息通信 - 电子信息及通讯
转让类型:
科技服务
专利类型:
发明专利
技术成熟度:
可以量产
供应描述
本发明实施例公开了一种电路测试控制方法及装置,包括,在进入测试模式后,接收第一测试口令,以及与所述第一测试口令对应的第一测试模式信号,将所述第一测试口令与预设口令进行匹配,如果匹配成功,将所述第一测试模式信号输入片上系统SOC芯片,以便于对所述SOC芯片上所述第一测试模式信号对应的第一测试项进行测试。相应的,本发明实施例还公开了一种电路测试控制装置。本发明实施例所提供的电路测试控制方法及装置,利用测试口令,控制测试模式信号进入SOC芯片,增加了启动SOC芯片测试项的条件,提高了SOC芯片的安全性,同时,通过输入相应的测试口令和测试模式信号,可以直接实现测试项的转换,使得测试过程更简洁。
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No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia
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认证方式:
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