本发明实施例公开了一种电路测试控制方法及装置，包括，在进入测试模式后，接收第一测试口令，以及与所述第一测试口令对应的第一测试模式信号，将所述第一测试口令与预设口令进行匹配，如果匹配成功，将所述第一测试模式信号输入片上系统SOC芯片，以便于对所述SOC芯片上所述第一测试模式信号对应的第一测试项进行测试。相应的，本发明实施例还公开了一种电路测试控制装置。本发明实施例所提供的电路测试控制方法及装置，利用测试口令，控制测试模式信号进入SOC芯片，增加了启动SOC芯片测试项的条件，提高了SOC芯片的安全性，同时，通过输入相应的测试口令和测试模式信号，可以直接实现测试项的转换，使得测试过程更简洁。