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基于光纤连接的多种折射率颗粒粒径多点测量装置及方法
编号:S000025526 刷新日期: 有效日期至:2020-12-13 浏览:3275 对接邀请:0
意向价格: 面议
所在区域:中国 - 技术领域:信息通信 - 电子信息及通讯
转让类型:科技服务
专利类型:发明专利 技术成熟度:可以量产
供应描述
本发明公开了一种基于光纤连接的多种折射率颗粒粒径多点测量装置,主要包括光源模块、多个颗粒检测探头模块、信号中央处理主机、光源传输光纤和数据传输线;多个颗粒检测探头模块分别通过光源传输光纤与光源模块连接,多个颗粒检测探头模块分别通过数据传输线与信号中央处理主机连接;本发明采用光纤传输激光作为颗粒检测探头的光源,颗粒检测探头采用独立的气泵进样,散射信号传输到处理终端实现数据的统一分析处理。相比目前的多点采集系统,本发明模块化更强,将系统分成了光源、探测头、信号处理终端。这样既增强了系统的通用性,各部分器件的更换变得更加容易;也提高了探头检测的空间分布距离,适合在大空间范围内进行颗粒的探测。
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机构地址:No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia 查看地图
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