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> 技术详情
一种冲击温度及光谱发射率的实时测量系统
编号:S000025375
刷新日期:
有效日期至:
2020-09-27
浏览:
2207
次
对接邀请:
0
次
意向价格:
面议
所在区域:
中国 - 四川
技术领域:
信息通信 - 电子信息及通讯
转让类型:
科技服务
专利类型:
发明专利
技术成熟度:
可以量产
供应描述
本发明提供了一种冲击温度及光谱发射率的实时测量系统,所述的测量系统中的连续激光器的输出激光经高速声光调制器调制成能量比值恒定的双脉冲激光,分别在冲击波到达被测样品表面时刻的前后照射在被测样品表面上,同时与被测样品因冲击而产生的热辐射光信号一起被双光纤探头接收,由多通道辐射高温计进行探测。通过测量双脉冲激光信号幅度的变化及热辐射光信号幅度,可同时计算得到被测样品的光谱发射率及冲击温度。本发明中的光信号全部在光纤中传输,便于复杂环境中测量,连续激光器输出功率可连续独立调节,双脉冲激光时间响应快,能够实时反映冲击前后被测样品表面反射率的变化情况,适用于不同温度范围内的光谱发射率及冲击温度的测量。
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机构地址:
No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia
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认证方式:
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