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> 技术详情
一种基于差分光学的相位差法波前测量成像装置
编号:S000024823
刷新日期:
有效日期至:
2020-10-02
浏览:
2435
次
对接邀请:
0
次
意向价格:
面议
所在区域:
中国 - 四川
技术领域:
信息通信 - 电子信息及通讯
转让类型:
合作研发
专利类型:
发明专利
技术成熟度:
可以量产
供应描述
一种基于差分光学的相位差法波前测量成像装置,由光束匹配系统、成像透镜、分光镜、反射镜、带有小孔的反射镜、平移机构和光电探测器CCD组成,其特征在于所述的差分光学系统:可通过一个光电探测器同时获得同一目标的焦面图像和离焦面图像;不损失待成像目标的光强能量;离焦面可获得从零逐渐增大的连续可调离焦量;焦面和离焦面图像在光电探测器CCD靶面中的位置能任意调整。相对于目前用于相位差法的各种成像技术,本发明结构简单稳定,可通过一个光电探测器同时获得焦面和离焦面两幅图像,能灵活调整用于相位差法的各项参数,并且能实现最大光能利用,为相位差法波前测量技术在实际工程,尤其是弱光条件下的运用奠定基础。
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机构地址:
No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia
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认证方式:
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