您当前的位置:首页 > 供应列表 > 技术详情
一种基于差分光学的相位差法波前测量成像装置
编号:S000024823 刷新日期: 有效日期至:2020-10-02 浏览:2435 对接邀请:0
意向价格: 面议
所在区域:中国 - 四川 技术领域:信息通信 - 电子信息及通讯
转让类型:合作研发
专利类型:发明专利 技术成熟度:可以量产
供应描述
一种基于差分光学的相位差法波前测量成像装置,由光束匹配系统、成像透镜、分光镜、反射镜、带有小孔的反射镜、平移机构和光电探测器CCD组成,其特征在于所述的差分光学系统:可通过一个光电探测器同时获得同一目标的焦面图像和离焦面图像;不损失待成像目标的光强能量;离焦面可获得从零逐渐增大的连续可调离焦量;焦面和离焦面图像在光电探测器CCD靶面中的位置能任意调整。相对于目前用于相位差法的各种成像技术,本发明结构简单稳定,可通过一个光电探测器同时获得焦面和离焦面两幅图像,能灵活调整用于相位差法的各项参数,并且能实现最大光能利用,为相位差法波前测量技术在实际工程,尤其是弱光条件下的运用奠定基础。
分享到:
联系方式
在线QQ: 点击这里
机构地址:No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia 查看地图
China-Arab States Technology Transfer Center
相似供应