本发明涉及测量技术领域，具体涉及一种镀层厚度测量技术。厚薄两用镀层厚度测量仪，包括一设备支架，至少一固定在设备支架上的光检测装置，光检测装置连接一微型处理器系统，光检测装置设有一光源，光源采用红外激光器；光检测装置设有一光敏元件，光敏元件采用红外光敏二极管；设备支架设有一条状开口，红外激光器与红外光敏二极管分别位于条状开口两侧，呈对射关系；红外激光器通过一功率调整机构连接供电电源，通过功率调整机构调整发光强度。激光具有光照面集中、光强度强，具有穿透较厚的镀层的能力，可以适用于厚镀层。又因为具有亮度可调的特点，在降低亮度后，也可以适用于厚度较薄的镀层。