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> 技术详情
横向过生长一维电子气GaN基HEMT器件及制备方法
编号:S000021788
刷新日期:
有效日期至:
2020-11-16
浏览:
2511
次
对接邀请:
0
次
意向价格:
面议
所在区域:
中国 - 陕西
技术领域:
智能制造 - 装备制造业
转让类型:
合作研发
专利类型:
发明专利
技术成熟度:
可以量产
供应描述
本发明公开了一种横向过生长一维电子气GaN基HEMT器件及制备方法,主要解决现有一维电子气器件高温高压特性、频率特性及功率特性较差的问题。该器件自下而上包括衬底、缓冲层、势垒层、钝化层和保护层;势垒层上的两端分别为源极和漏极,钝化层位于源极和漏极之间的势垒层上,该钝化层上开有栅槽,栅槽中设有栅极;势垒层采用AlGaN;缓冲层采用GaN,该缓冲层中设有按周期性排列的掩蔽层条,每两个掩蔽层条之间的间隔为纳米量级,以形成一维电子气。本发明与Si基和GaAs基一维电子气器件相比,由于采用材料特性突出的宽禁带半导体GaN,故具有很好的高温高压特性、频率特性和功率特性,可制作超高速低功耗的一维电子气器件。
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机构地址:
No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia
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认证方式:
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