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横向过生长一维电子气GaN基HEMT器件及制备方法
编号:S000021788 刷新日期: 有效日期至:2020-11-16 浏览:2348 对接邀请:0
意向价格: 面议
所在区域:中国 - 陕西 技术领域:智能制造 - 装备制造业
转让类型:合作研发
专利类型:发明专利 技术成熟度:可以量产
供应描述
本发明公开了一种横向过生长一维电子气GaN基HEMT器件及制备方法,主要解决现有一维电子气器件高温高压特性、频率特性及功率特性较差的问题。该器件自下而上包括衬底、缓冲层、势垒层、钝化层和保护层;势垒层上的两端分别为源极和漏极,钝化层位于源极和漏极之间的势垒层上,该钝化层上开有栅槽,栅槽中设有栅极;势垒层采用AlGaN;缓冲层采用GaN,该缓冲层中设有按周期性排列的掩蔽层条,每两个掩蔽层条之间的间隔为纳米量级,以形成一维电子气。本发明与Si基和GaAs基一维电子气器件相比,由于采用材料特性突出的宽禁带半导体GaN,故具有很好的高温高压特性、频率特性和功率特性,可制作超高速低功耗的一维电子气器件。
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机构地址:No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia 查看地图
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