本发明公开了一种高纯铜中碳硫元素分析方法，该方法包含：步骤1，对高纯铜样品进行前处理；步骤2，上机测试：记录所称取的高纯铜样品质量m和所用助溶剂的质量m₁，包含样品与助溶剂的总质量为m₀，m₀=m₁+m，使用碳硫分析仪分别测定包含样品与助溶剂的总碳含量C_碳0、总硫含量C_硫0及助溶剂的碳含量C_碳1、硫含量C_硫1；步骤3，样品中的碳含量C_碳按公式（1）计算：其中，样品中的硫含量C_硫按公式（2）计算：从而完成碳硫元素分析。本发明提供的分析方法所用的仪器常规普通，检测成本低，周期短，能够准确检测出低含量（如小于1μg/g）的高纯铜中的碳硫含量，能够很好地控制高纯铜的质量，可以满足日益发展的半导体产业需求。