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> 技术详情
单片集成红外焦平面探测器
编号:S000021622
刷新日期:
有效日期至:
2020-12-08
浏览:
2380
次
对接邀请:
0
次
意向价格:
面议
所在区域:
中国 -
技术领域:
智能制造 - 装备制造业
转让类型:
科技服务
专利类型:
发明专利
技术成熟度:
可以量产
供应描述
本发明提供了一种单片集成红外焦平面探测器,包括:衬底;TFT信号读出电路阵列以及TFT信号处理电路阵列,位于衬底之上;红外探测像素单元阵列,位于TFT信号读出电路阵列之上。相应地,本发明还提供了单片集成红外焦平面探测器的制造方法。本发明利用非晶态氧化物半导体的高迁移率、高均匀性和简单工艺的特性,将处理电路、读出电路与探测器阵列集成制作在同一衬底基板上。实现了制作探测器与读出电路的全薄膜工艺,在工艺流程上一次完成,因而降低了制作成本。
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No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia
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