本发明公开了一种基于散斑干涉的测温装置及采用该装置的测温方法，基于散斑干涉的测温装置，包括计算机(9)、绿光半导体激光器(1)、激光扩束器(2)、半反半透镜(3)、参考漫反射面(4)、热源(6)、滤光片(7)和CCD摄像机(8)，热源(6)用于给待测试件(5)加热；滤光片(7)安装在CCD摄像机(8)的拍摄端，用于滤除待测试件(5)受热后的辐射光；它解决了现有的测温方法获得的测温结果的准确度较低、测温范围较小、测温速度较慢的问题。