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一种用于铜离子的光电化学分析检测方法
编号:S000021355 刷新日期: 有效日期至:2020-12-15 浏览:2398 对接邀请:0
意向价格: 面议
所在区域:中国 - 江苏 技术领域:智能制造 - 装备制造业
转让类型:合作研发
专利类型:发明专利 技术成熟度:可以量产
供应描述
本发明公开了一种用于铜离子的光电化学分析检测方法,包括如下步骤:(1)用清洗溶剂清洗ITO导电玻璃待用;(2)用待测含铜离子的溶液和不同阶梯浓度的硝酸铜溶液分别配制含有0.05~0.2摩尔/升硝酸钾的混合溶液;(3)用ITO导电玻璃作为工作电极、铂丝作为对电极、银/氯化银作为参比电极,分别置于步骤(2)的混合溶液中,分别在-0.1~-0.3伏条件下沉积30~120分钟,生成纳米氧化亚铜半导体光阴极,并定量产生对应的光电流;(4)绘制铜离子-光电流对应关系曲线图,获得铜离子溶度。本发明方法为方便、简便、快速、超灵敏、高特异性及环境友好的铜离子光电化学分析检测方法。
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机构地址:No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia 查看地图
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