本发明涉及一种Seebeck系数测试装置，它包括陶瓷底座，陶瓷底座采用由一体成型的长边端和短边端构成的L型结构，长边端内横向间隔埋设有两加热管，两加热管分别与可控硅调压器连接；在陶瓷底座的短边端上，设置有与长边端垂直的两集热铜块，且两集热铜块与两加热管呈对应设置；在两集热铜块之间设置有两热电偶，且两热电偶一端分别与两路铜导线一端焊接成一个结点，该结点与陶瓷底座的长边端上表面之间夹设有试样，两热电偶另一端穿设在陶瓷底座的短边端内，并连接万用表的温度采集通道；两路铜导线另一端穿过陶瓷底座的短边端，依次连接万用表的电压采集通道和计算机，通过万用表将采集到的试样温度和电压信号通过GPIB接口输入至计算机内实时显示并记录。本发明能在半导体测试领域中广泛应用。