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> 技术详情
一种内嵌多P岛N沟道超结器件及其制备方法
编号:S000020475
刷新日期:
有效日期至:
2020-09-26
浏览:
2314
次
对接邀请:
0
次
意向价格:
面议
所在区域:
中国 -
技术领域:
智能制造 - 装备制造业
转让类型:
合作研发
专利类型:
发明专利
技术成熟度:
可以量产
供应描述
本发明提供一种内嵌多P岛N沟道超结器件及其制备方法,所述的内嵌多P岛N沟道超结器件包括:半导体衬底,形成在所述半导体衬底上的N型漂移区,位于所述N型漂移区一侧的P型体区,以及位于所述N型漂移区另一侧上的N型漏区,其中,所述N型漂移区中形成有多个互相间隔且平行排列的岛状P区,且各该岛状P区由N型源区朝N型漏区方向线性变小,由于在高压下衬底辅助耗尽效应作用从源端到漏端依次增强,因此岛状P区相应地从源端到漏端方向上由大变小,以实现和衬底辅助耗尽效应作用互补抵消,最终达到电荷平衡的目的。
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No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia
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认证方式:
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