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使用测量平板透明介质折射率的实验装置的实验方法
编号:S000020234 刷新日期: 有效日期至:2020-10-08 浏览:2479 对接邀请:0
意向价格: 面议
所在区域:中国 - 陕西 技术领域:智能制造 - 装备制造业
转让类型:技术转让
专利类型:发明专利 技术成熟度:可以量产
供应描述
一种测量平板透明介质折射率的实验装置与实验方法,在底座上设置有半导体激光器,底座上半导体激光器光出射方向设置有中心线与半导体激光器中心线相垂直的柱透镜,待测平板透明介质的光入射面上设置有坐标纸,坐标纸的标度面粘贴在平板透明介质光入射方向的一侧面。测量平板透明介质折射率的实验测量方法步骤为:坐标纸的标度面贴在已知厚度的平板透明介质光入射面上,半导体激光器出射的激光束入射到柱透镜,出射的线光源垂直入射于平板透明介质上坐标纸的背面,从平板透明介质的另一侧面迎光观察到以坐标纸上的线状光带为中心线对称的暗带,按公式计算出平板透明介质的折射率。可用于学生光学实验、课堂演示实验以及工程现场测量。
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机构地址:No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia 查看地图
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