一种设计标准单元的方法，包括：确定标准单元中的半导体鳍的最小鳍间距，其中，半导体鳍是FinFET的部分；以及确定在标准单元上方的底部金属层中的金属线的最小金属间距，其中，最小金属间距大于最小鳍间距。该标准单元被布置在集成电路中并且实现在半导体晶圆上。本发明还提出了一种FinFET的适应性鳍设计。