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带有凹口的栅电极及其形成方法
编号:S000019662 刷新日期: 有效日期至:2020-10-06 浏览:2307 对接邀请:0
意向价格: 面议
所在区域:中国 - 技术领域:智能制造 - 装备制造业
转让类型:技术转让
专利类型:发明专利 技术成熟度:可以量产
供应描述
一种器件包括半导体衬底,和从该半导体衬底的顶面延伸到半导体衬底内的器件隔离(DI)区。栅极电介质设置在半导体衬底的有源区上方,其中栅极电介质在DI区上方延伸。栅电极设置在栅极电介质上方,其中该栅电极的凹口与该DI区的一部分重叠。本发明提供带有凹口的栅电极及其形成方法。
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机构地址:No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia 查看地图
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