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> 技术详情
带有凹口的栅电极及其形成方法
编号:S000019662
刷新日期:
有效日期至:
2020-10-06
浏览:
2307
次
对接邀请:
0
次
意向价格:
面议
所在区域:
中国 -
技术领域:
智能制造 - 装备制造业
转让类型:
技术转让
专利类型:
发明专利
技术成熟度:
可以量产
供应描述
一种器件包括半导体衬底,和从该半导体衬底的顶面延伸到半导体衬底内的器件隔离(DI)区。栅极电介质设置在半导体衬底的有源区上方,其中栅极电介质在DI区上方延伸。栅电极设置在栅极电介质上方,其中该栅电极的凹口与该DI区的一部分重叠。本发明提供带有凹口的栅电极及其形成方法。
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机构地址:
No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia
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认证方式:
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