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MOS晶体管的形成方法
编号:S000019586 刷新日期: 有效日期至:2020-11-28 浏览:2066 对接邀请:0
意向价格: 面议
所在区域:中国 - 技术领域:智能制造 - 装备制造业
转让类型:技术转让
专利类型:发明专利 技术成熟度:可以量产
供应描述
一种MOS晶体管的形成方法,包括:提供半导体衬底,所述半导体衬底包括第一区域和第二区域,所述第一区域的半导体衬底表面形成有PMOS晶体管的第一栅极结构,所述第二区域的半导体衬底表面形成有NMOS晶体管的第二栅极结构;在第一区域的第一栅极结构两侧的半导体衬底内形成第一沟槽,在第二区域的第二栅极两侧的半导体衬底内形成第二沟槽;在第一沟槽和第二沟槽内填充满硅锗层;对第二沟槽内的硅锗层进行离子注入,释放第二沟槽内的硅锗层的应力。本发明实施例的方法,工艺步骤简单。
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机构地址:No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia 查看地图
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