本发明公开了一种导体生产中电子元件测试系统及方法，其主要技术点为：测试机控制打开继电器开关连接所述极性电参测试板或第二电参测试板，对电子元件加载对应的测试条件在第一工位完成电子元件的极性测试和一次电性性能参数测试，在第二工位完成电子元件的二次电性性能参数测试。本发明对电子元件的极性和电性性能参数都进行了测试，功能全面，两个工位采用两个测试板，减少了测试板的应用，大大的降低产品的制造成本，且使编带机结构简单。