强制均温和半导体制冷片调温的惯性仪表测试用温控仪，包括温度控制器(100)、控制和功率放大电路(200)、恒温容器(300)和温度传感器(400)，恒温容器(300)又包括调温元件和均温体(304)。调温元件安装于恒温容器(300)外，利用容器外壳初步均温。采用均温体(304)包容被测对象达到二次均温。控制调温元件的电流形成恒温容器(300)上下部分温度的微小差别，促成恒温容器(300)内介质的上下流动，同时在介质上下流动的路径中设置水平放置的挡流片(308)，使介质旋转，加强传导与对流。本发明结构紧凑，具有使被测对象温度均匀，反应快，调温功率小，控温度精度高，通过电源产生的干扰小的优点。