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> 技术详情
半导体器件的形成方法、鳍式场效应管的形成方法
编号:S000019107
刷新日期:
有效日期至:
2020-11-25
浏览:
2398
次
对接邀请:
0
次
意向价格:
面议
所在区域:
中国 -
技术领域:
智能制造 - 装备制造业
转让类型:
合作研发
专利类型:
发明专利
技术成熟度:
可以量产
供应描述
一种半导体器件的形成方法,包括:提供半导体衬底,所述半导体衬底表面具有隔离层;形成贯穿所述隔离层厚度的开口;在所述开口内形成第一子鳍部,所述第一子鳍部中包含掺杂离子,且所述第一子鳍部表面低于隔离层表面;在所述开口内形成第二子鳍部,所述第二子鳍部位于所述第一子鳍部表面。相应的,发明人还提供了一种鳍式场效应管的形成方法,形成的半导体器件和鳍式场效应管的漏电流小,器件性能稳定。
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机构地址:
No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia
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认证方式:
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