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用于从基部基底受控地移除半导体器件层的方法
编号:S000019008 刷新日期: 有效日期至:2020-12-08 浏览:2074 对接邀请:0
意向价格: 面议
所在区域:中国 - 技术领域:智能制造 - 装备制造业
转让类型:合作研发
专利类型:发明专利 技术成熟度:可以量产
供应描述
提供了一种从基部基底受控地移除半导体器件层的方法,包括在基部基底的上表面上提供裂纹传播层。在裂纹传播层上形成包括至少一个半导体器件的半导体器件层。接着,蚀刻裂纹传播层的端部部分以在裂纹传播层中起始形成裂纹。随后分裂经蚀刻的裂纹传播层以提供经分裂的裂纹传播层部分至半导体器件层的表面,并且提供另一经分裂的裂纹传播层部分至基部基底的上表面。从半导体器件层的表面移除经分裂的裂纹传播层部分,并且从基部基底的上表面移除另一经分裂的裂纹传播层部分。
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机构地址:No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia 查看地图
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