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半导体元件及其制造方法
编号:S000018923 刷新日期: 有效日期至:2020-10-21 浏览:2429 对接邀请:0
意向价格: 面议
所在区域:中国 - 技术领域:智能制造 - 装备制造业
转让类型:技术转让
专利类型:发明专利 技术成熟度:可以量产
供应描述
本发明公开一种半导体元件及其制造方法。在基板上形成栅极。在栅极上方或下方形成源极与漏极。形成第一绝缘层,以覆盖源极与漏极。在源极与漏极之间形成半导体层。图案化第一绝缘层,以至少覆盖漏极。在图案化第一绝缘层上形成第二绝缘层。对第二绝缘层进行蚀刻制作工艺,以形成暴露出图案化第一绝缘层且位于漏极上方的第二开口,其中第二绝缘层/图案化第一绝缘层的蚀刻选择比大于1。经由第二开口,对图案化第一绝缘层进行湿式蚀刻制作工艺,以形成与第二开口连通且暴露出漏极的第一开口。形成经由第一开口及第二开口与漏极电连接的像素电极。
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机构地址:No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia 查看地图
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