本发明提供一种半导体激光器光强分布测试方法，是将半导体激光器定位，经取样装置由激光强度测量仪探测接收到的激光光强；以激光器发光面几何中心为原点，设过原点垂直于激光器发光面的法线方向为z轴，在垂直于z轴的平面上过原点的直线为扫描基准线，取样装置的扫描幅面垂直于扫描基准线，本发明可以准确测试半导体激光器的远场光强分布，通过光强分布可以得到半导体激光器的光斑尺寸，远场发散角等信息。