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> 技术详情
一种高分辨质谱成像系统图像采集半导体薄膜、制备方法及应用
编号:S000018826
刷新日期:
有效日期至:
2020-12-15
浏览:
2228
次
对接邀请:
0
次
意向价格:
面议
所在区域:
中国 - 湖北
技术领域:
智能制造 - 装备制造业
转让类型:
合作研发
专利类型:
发明专利
技术成熟度:
可以量产
供应描述
本发明属于质谱成像领域,具体涉及一种高分辨质谱成像系统图像采集半导体薄膜、制备方法及应用。本发明所述高分辨质谱成像系统图像采集半导体薄膜,通过如下方法制备得到:称取半导体纳米颗粒,首先置于马弗炉中灼烧,进一步用玛瑙研钵磨细,使其分散均匀,得到半导体纳米粉末;最后将半导体纳米粉末置于压片机中压制得到半导体薄膜。本发明利用半导体纳米材料的激光诱导隧道电子俘获原理使样品分子离子化,无背景干扰,克服了常规MALDI基质的局限性,所述半导体薄膜简单易得,质谱信号稳定,表面均匀光滑,不产生背景干扰,可用于指纹分析和动植物组织切片分析,特别适合于小分子物质的准确质谱成像,便于质量控制和产业化。
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机构地址:
No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia
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认证方式:
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