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> 技术详情
一种3D氧化物半导体薄膜晶体管及其制备方法
编号:S000018798
刷新日期:
有效日期至:
2020-10-14
浏览:
3654
次
对接邀请:
0
次
意向价格:
面议
所在区域:
中国 -
技术领域:
智能制造 - 装备制造业
转让类型:
科技服务
专利类型:
发明专利
技术成熟度:
可以量产
供应描述
本发明公开了一种3D氧化物半导体薄膜晶体管及其制备方法。本发明的薄膜晶体管采用下层有源区、下层栅介质、栅电极的连续生长,以及上层栅介质、上层有源区的连续生长,能够极大减少有源层与栅介质的界面缺陷态,因而能极大地提高薄膜晶体管TFT的驱动能力。而且由于同一个栅电极能够同时控制两层有源区,进一步提高了TFT的驱动能力。使用本方法制备的薄膜晶体管具有较高开关比、较高开态电流、较陡的亚阈斜率等优良特性。因此,本发明具有较高的实用价值,有望广泛用于微电子和平板显示产业。进一步,如果控制上层和下层有源区的阈值电压不同,又能将多阈值技术集成到同一个TFT管子中,而这有望在像素驱动单元电路中得到广泛的应用。
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机构地址:
No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia
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认证方式:
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