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半导体器件及其封装方法
编号:S000018621 刷新日期: 有效日期至:2020-11-06 浏览:2442 对接邀请:0
意向价格: 面议
所在区域:中国 - 江苏 技术领域:智能制造 - 装备制造业
转让类型:技术转让
专利类型:发明专利 技术成熟度:可以量产
供应描述
本发明提供一种半导体器件及其封装方法。其中,半导体器件包括半导体基底和柱状电极,所述半导体基底上具有焊盘,所述焊盘与所述柱状电极的一端电连接,所述柱状电极外侧裹覆焊接凸点,且所述焊接凸点覆盖所述柱状电极的周面及远离所述焊盘的端面。上述方案,使焊接凸点裹覆在柱状电极的外侧,使焊接凸点与柱状电极形成了类似插销的结构,焊接凸点与柱状电极由现有的单平面接触变为多面接触,接触面积增大,两者的结合力增强,使得焊接凸点受到的可接受外力大大增强,进而提高了焊接凸点与柱状电极结合的可靠性。
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机构地址:No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia 查看地图
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