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半导体结构及其形成方法
编号:S000018378 刷新日期: 有效日期至:2020-11-12 浏览:2907 对接邀请:0
意向价格: 面议
所在区域:中国 - 技术领域:智能制造 - 装备制造业
转让类型:技术转让
专利类型:发明专利 技术成熟度:可以量产
供应描述
本发明提供一种半导体结构及其形成方法,该半导体结构包括:半导体衬底;所述半导体衬底上定义有源区和漏区,形成在所述源区和或漏区中的凹槽,所述凹槽中填充有稀土氧化物;形成在所述凹槽中的所述稀土氧化物上的源和或漏;和形成在所述源和漏之间的沟道区。通过在半导体器件的源和或漏下方形成稀土氧化物层,从而向CMOS器件的源和或漏和或沟道区引入类型和大小可调的应力,显著提升半导体器件的迁移率,并且,利用稀土氧化物的晶体特性,以晶体生长的方式形成应力源,极大地提高了应力引入的效率,并简化了工艺流程。
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机构地址:No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia 查看地图
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