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> 技术详情
半导体结构及其形成方法
编号:S000018378
刷新日期:
有效日期至:
2020-11-12
浏览:
3303
次
对接邀请:
0
次
意向价格:
面议
所在区域:
中国 -
技术领域:
智能制造 - 装备制造业
转让类型:
技术转让
专利类型:
发明专利
技术成熟度:
可以量产
供应描述
本发明提供一种半导体结构及其形成方法,该半导体结构包括:半导体衬底;所述半导体衬底上定义有源区和漏区,形成在所述源区和或漏区中的凹槽,所述凹槽中填充有稀土氧化物;形成在所述凹槽中的所述稀土氧化物上的源和或漏;和形成在所述源和漏之间的沟道区。通过在半导体器件的源和或漏下方形成稀土氧化物层,从而向CMOS器件的源和或漏和或沟道区引入类型和大小可调的应力,显著提升半导体器件的迁移率,并且,利用稀土氧化物的晶体特性,以晶体生长的方式形成应力源,极大地提高了应力引入的效率,并简化了工艺流程。
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No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia
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认证方式:
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