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一种半导体测试探针清洗装置及方法
编号:S000018329 刷新日期: 有效日期至:2020-11-02 浏览:2466 对接邀请:0
意向价格: 面议
所在区域:中国 - 广东 技术领域:智能制造 - 装备制造业
转让类型:科技服务
专利类型:发明专利 技术成熟度:可以量产
供应描述
本发明公开了一种半导体测试探针清洗装置及方法,该装置包括第一液体容器,所述第一液体容器具有第一容器开口和第一容器底部,从所述第一容器底部至第一容器开口所述第一液体容器的横截面逐渐收窄。本发明中折弯型的半导体测试探针更容易伸入第一液体容器中完成清洗;另外,采用的第二液体容器可以收集从第一液体容器中外溢的液体,防止其对其他机构造成损害。
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机构地址:No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia 查看地图
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