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半导体器件的形成方法、晶体管的形成方法
编号:S000018199 刷新日期: 有效日期至:2020-09-30 浏览:2432 对接邀请:0
意向价格: 面议
所在区域:中国 - 技术领域:智能制造 - 装备制造业
转让类型:合作研发
专利类型:发明专利 技术成熟度:可以量产
供应描述
一种半导体器件的形成方法、晶体管的形成方法,其中,半导体器件的形成方法包括:提供绝缘体上半导体衬底,绝缘体上半导体衬底包括:基底、基底表面的绝缘层、以及绝缘层表面的半导体层;在半导体衬底表面形成掩膜层并暴露出部分半导体衬底表面;以掩膜层为掩膜,采用第一各向异性的湿法刻蚀工艺刻蚀半导体层,在半导体层内形成第一开口并暴露出绝缘层表面;在形成第一开口后,去除掩膜层;之后采用第二各向异性的湿法刻蚀工艺刻蚀半导体层,在相邻第一开口之间的半导体层内形成第二开口并暴露出绝缘层表面;然后去除部分绝缘层,形成悬空于基底上方的纳米线;再对纳米线进行热退火,使横截面变为圆形。所形成的纳米线尺寸减小。
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机构地址:No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia 查看地图
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