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一种绝缘体上半导体及其制备方法
编号:S000018141 刷新日期: 有效日期至:2020-11-11 浏览:2439 对接邀请:0
意向价格: 面议
所在区域:中国 - 技术领域:智能制造 - 装备制造业
转让类型:科技服务
专利类型:发明专利 技术成熟度:可以量产
供应描述
本发明提供一种绝缘体上半导体及其制备方法,先在第一Si衬底上的第一SiO2层刻出多个孔道,然后选择性外延Ge、SixGeyCzSn1-x-y-z、III-V族等半导体材料,填充所述孔道并形成半导体层,以获得性能优异的半导体层,在所述半导体层表面键合具有第二SiO2层的第二Si衬底,然后去除所述Si衬底并去除所述SiO2,接着填充PMMA,并在所得结构的下表面键合具有第三SiO2层的第三Si衬底,退火使PMMA膨胀以剥离上述结构,该剥离工艺简单,有利于节约成本,最后进行抛光以完成所述绝缘体上半导体的制备。本发明与现有的半导体技术兼容;通过选择性外延可降低半导体层的缺陷,有利于绝缘体上半导体性能的提高;通过PMMA退火膨胀剥离的工艺简单,有利于节约成本。本发明适用于工业生产。
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机构地址:No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia 查看地图
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