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半导体组件和测试与运作一个半导体组件的方法
编号:S000068865 刷新日期: 有效日期至:2020-09-25 浏览:2489 对接邀请:0
意向价格: 面议
所在区域:中国 - 技术领域:信息通信 - 电子信息及通讯
转让类型:科技服务
专利类型:发明专利 技术成熟度:可以量产
供应描述
本发明涉及一种半导体组件,它具有在半导体芯片的主表面之内或其上形成的电子线路,和在其上安置的与电子线路电气耦合的连接面,以与外界进行该线路的电通讯,其中电子线路一方面以标准方式在晶片的半导体芯片组合中可运行待进行的测试模式,在一个预定的连接面加上从外部引入的测试信号,另一方面可以作为工作模式运作,在连接面上加上工作信号。一个开关装置配置给至少一个连接面,通过它可以把该连接面从测试模式转换到工作模式。
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机构地址:No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia 查看地图
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