本发明公开了一种集成电路的通用测试系统，包括依次连接的主控模块、测试功能模块和测试资源总线，测试功能模块通过测试资源总线提供给被测集成电路测试资源，主控模块包括MCU和FPGA或者PC和FPGA，MCU或者PC用于测试流程控制，FPGA用于测试功能模块的操作及测试结果数据的处理，MCU和FPGA或者PC和FPGA通过通讯协议总线连接；本发明可使MCU从复杂的测试数据处理及测试功能模块的具体功能控制中解脱，只单一的处理控制流程，可有效降低对MCU的性能要求；FPGA可根据不同集成电路测试要求提供可供二次开发的用户定制测试功能，以达到更好的灵活通用及高效开发的目的，这样可以有效的提高测试的效率。