本发明涉及微波测试技术领域，特别涉及一种用于天线近场测试的扫描装置。用于天线近场测试的扫描装置，包括壁面上设置有吸波材料的微波屏蔽暗室，还包括计算机、矢量网络分析仪、三维移动系统、近场测试探头，所述计算机与矢量网络分析仪相连，矢量网络分析仪的输入端连接到近场测试探头，所述近场测试探头固定在三维移动系统的多关节机械臂前端。本发明中的三维移动系统包括PLC控制器、伺服驱动器、多关节机械臂及伺服电机，使探头重复定位精度可达到±0.01mm，定位平面度可达±0.03mm。PLC控制器与计算机通过太网通讯网络实现连接通讯，三维移动系统通过计算机进行实时精确控制，自动化程度高、精度高。各部件整合在一起，集成度高，使用维护方便。