一种选相开关校验装置及校验方法，包括单片机MCU、滤波与隔离变换电路B1、隔离电路B2、上位计算机PC和三相选相开关PSS，单片机MCU的串行通讯接口和三相选相开关PSS的串行通讯接口与上位机PC的串行通讯接口连接；单片机MCU的PO1接口与滤波与隔离变换电路B1的SO的信号输入接口连接，滤波与隔离变换电路B1的IS信号输出接口与三相选相开关PSS的IP2接口连接；单片机MCU的D01、D02、D11、D12和D13接口分别与隔离电路B2的对应接口连接。利用本方法制造专门的设备进行自动校验，不需人工繁琐操作，避免了人为出错，提高了校验效率。