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> 技术详情
一种支持光器件寿命预测和失效原因分析的装置和方法
编号:S000065859
刷新日期:
有效日期至:
2020-10-04
浏览:
2481
次
对接邀请:
0
次
意向价格:
面议
所在区域:
中国 - 四川
技术领域:
信息通信 - 电子信息及通讯
转让类型:
技术转让
专利类型:
发明专利
技术成熟度:
可以量产
供应描述
本发明涉及光通信领域,本发明公开了一种支持光器件寿命预测和失效原因分析的装置,包括处理器CPU、存储器、光模块状态采集单元、光模块通讯接口,所述处理器CPU分别与所述存储器、光模块状态采集单元、光模块通讯接口连接;所述处理器CPU用于根据光模块的寿命参数和运行参数进行判断,并以判断结果为依据预测出光模块的寿命;所述存储器用于保存光模块的寿命参数和运行参数;所述光模块状态采集单元用于采集光模块的运行参数;所述光模块通讯接口用于与外部管理端的通讯。本发明还公开了一种支持光器件寿命预测和失效原因分析的方法,处理器CPU根据光模块的寿命参数和运行参数,计算出光模块当前所处的寿命阶段,作为是否需要更换光模块的依据,有效预测出光模块的寿命,同时存储的光模块运行参数可作失效原因的统计分析使用。
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No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia
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认证方式:
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