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一种具有减反射特性的亚波长硅纳米线阵列的制备方法
编号:S000033478 刷新日期: 有效日期至:2020-10-12 浏览:2247 对接邀请:0
意向价格: 面议
所在区域:中国 - 技术领域:能源与环保 - 太阳能利用
转让类型:技术转让
专利类型:发明专利 技术成熟度:可以量产
供应描述
本发明属于纳米技术领域,特别涉及一种具有减反射特性的亚波长硅纳米线阵列的制备方法。本发明采用n型(100)硅片,利用高真空磁控溅射技术在其表面沉积具有网状结构的银膜,然后采用湿法刻蚀技术,在硅表面获得具有减反射特性的亚波长锥形硅纳米线阵列,经测试,其反射率低于1%。本发明首次利用银膜催化刻蚀硅技术,具有无掩模与常温常压的工艺特征,操作简单,重复性与可控性好,为制备具有亚波长尺度的超减反硅表面纳米结构提供了新思路,为设计和构建新型高效硅太阳能电池提供了材料基础。
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机构地址:No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia 查看地图
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