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> 技术详情
太阳能电池芯片测试装置及测试方法
编号:S000029977
刷新日期:
有效日期至:
2020-12-08
浏览:
2398
次
对接邀请:
0
次
意向价格:
面议
所在区域:
中国 -
技术领域:
能源与环保 - 太阳能利用
转让类型:
技术转让
专利类型:
发明专利
技术成熟度:
可以量产
供应描述
本发明公开了一种多结太阳能电池的测试装置,其包括:承载盘,用于承载待测电池圆片;遮光罩,位于所述承载盘上,将所述待测电池圆片全部罩住,其顶部或侧壁开有窗口;光导结构,通过所述遮光罩的窗口固定于遮光罩上,两端部具有开口,其中第一端部的开口位于所述遮光罩外,第二端部的开口位于所述遮光罩内,其开口尺寸与待测太阳能电池芯片的尺寸相同;在电池圆片测试过程中,外部光源通过所述光导结构入射至所述电池圆片的待测芯片上。该结构通过设置一遮光罩用于将整个太阳能电池圆片全部罩住,并通过一光导结构将测试光源仅入射至太阳能电池圆片的芯片上,而其邻近的芯片无光照,从而避免了邻近芯片对测试结果的影响。
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机构地址:
No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia
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认证方式:
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