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太阳能电池芯片测试装置及测试方法
编号:S000029977 刷新日期: 有效日期至:2020-12-08 浏览:2226 对接邀请:0
意向价格: 面议
所在区域:中国 - 技术领域:能源与环保 - 太阳能利用
转让类型:技术转让
专利类型:发明专利 技术成熟度:可以量产
供应描述
本发明公开了一种多结太阳能电池的测试装置,其包括:承载盘,用于承载待测电池圆片;遮光罩,位于所述承载盘上,将所述待测电池圆片全部罩住,其顶部或侧壁开有窗口;光导结构,通过所述遮光罩的窗口固定于遮光罩上,两端部具有开口,其中第一端部的开口位于所述遮光罩外,第二端部的开口位于所述遮光罩内,其开口尺寸与待测太阳能电池芯片的尺寸相同;在电池圆片测试过程中,外部光源通过所述光导结构入射至所述电池圆片的待测芯片上。该结构通过设置一遮光罩用于将整个太阳能电池圆片全部罩住,并通过一光导结构将测试光源仅入射至太阳能电池圆片的芯片上,而其邻近的芯片无光照,从而避免了邻近芯片对测试结果的影响。
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机构地址:No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia 查看地图
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