本发明公开了一种过零检测电路，包括：第一PMOS管、第二PMOS管、第三PMOS管、第四PMOS管、第一NMOS管、第二NMOS管、第三NMOS管、第四NMOS管、第五NMOS管、第六NMOS管以及第一NPN管、第二NPN管和第一电阻、第二电阻。本发明的检测电路没有在系统的主电流回路中添加额外的器件，降低了功耗；其次不需要运算放大器作辅助，简化了电路结构；同时采用的器件数目较少，有效地减小了芯片面积，而且该检测电路不需要片外检测电阻，可以完全片上集成，降低了对外部PCB板的面积要求，提高了系统集成度。