您当前的位置:首页 > 供应列表 > 技术详情
一种大规模微系统芯片的片上多节点系统的自测试方法
编号:S000025566 刷新日期: 有效日期至:2020-10-25 浏览:2475 对接邀请:0
意向价格: 面议
所在区域:中国 - 江苏 技术领域:信息通信 - 电子信息及通讯
转让类型:科技服务
专利类型:发明专利 技术成熟度:可以量产
供应描述
本发明公开了一种大规模微系统芯片的片上多节点系统的自测试方法,主要包括:对片上多节点系统中的路由器Router进行初始化设置,并设定测试源Test Source;该测试源Test Source,能够在片上多节点系统启动时,启动路由器的并行自测试流程,统计并行自测试流程的测试信息。本发明所述大规模微系统芯片的片上多节点系统的自测试方法,可以克服现有技术中无法测试片上多节点系统中路由器之间的互连线路等缺陷,以实现测试结果准确和总体测试时间少的优点。
分享到:
联系方式
在线QQ: 点击这里
机构地址:No.490, S.Ning'an Str., Yinchuan,Ningxia 查看地图
China-Arab States Technology Transfer Center
相似供应